Piezoelectricity and charge trapping in ZnO and Co-doped ZnO thin films

Piezoelectricity and charge storage of undoped and Co-doped ZnO thin films were investigated by means of PiezoResponse Force Microscopy and Kelvin Probe Force Microscopy. We found that Co-doped ZnO exhibits a large piezoelectric response, with the mean value of piezoelectric matrix element d33 sligh...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Domenico D’Agostino, Cinzia Di Giorgio, Antonio Di Trolio, Anita Guarino, Anna Maria Cucolo, Antonio Vecchione, Fabrizio Bobba
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: AIP Publishing LLC 2017-05-01
Loạt:AIP Advances
Truy cập trực tuyến:http://dx.doi.org/10.1063/1.4983474
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Những quyển sách tương tự