Piezoelectricity and charge trapping in ZnO and Co-doped ZnO thin films

Piezoelectricity and charge storage of undoped and Co-doped ZnO thin films were investigated by means of PiezoResponse Force Microscopy and Kelvin Probe Force Microscopy. We found that Co-doped ZnO exhibits a large piezoelectric response, with the mean value of piezoelectric matrix element d33 sligh...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Domenico D’Agostino, Cinzia Di Giorgio, Antonio Di Trolio, Anita Guarino, Anna Maria Cucolo, Antonio Vecchione, Fabrizio Bobba
التنسيق: Artigo
اللغة:Inglês
منشور في: AIP Publishing LLC 2017-05-01
سلاسل:AIP Advances
الوصول للمادة أونلاين:http://dx.doi.org/10.1063/1.4983474
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

مواد مشابهة