טוען...

Low-Temperature Annealing Induced Amorphization in Nanocrystalline NiW Alloy Films

Annealing induced amorphization in sputtered glass-forming thin films was generally observed in the supercooled liquid region. Based on X-ray diffraction and transmission electron microscope (TEM) analysis, however, here, we demonstrate that nearly full amorphization could occur in nanocrystalline (...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
Main Authors: Z. Q. Chen, F. Wang, P. Huang, T. J. Lu, K. W. Xu
פורמט: Artigo
שפה:Inglês
יצא לאור: Hindawi Limited 2013-01-01
סדרה:Journal of Nanomaterials
גישה מקוונת:http://dx.doi.org/10.1155/2013/252965
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!