Φορτώνει......

Low-Temperature Annealing Induced Amorphization in Nanocrystalline NiW Alloy Films

Annealing induced amorphization in sputtered glass-forming thin films was generally observed in the supercooled liquid region. Based on X-ray diffraction and transmission electron microscope (TEM) analysis, however, here, we demonstrate that nearly full amorphization could occur in nanocrystalline (...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Z. Q. Chen, F. Wang, P. Huang, T. J. Lu, K. W. Xu
Μορφή: Artigo
Γλώσσα:Inglês
Έκδοση: Hindawi Limited 2013-01-01
Σειρά:Journal of Nanomaterials
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1155/2013/252965
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!