Đang tải...

Different interfacial structures of Cu/In obtained by surface activated bonding (SAB) in vacuum and vapor-assisted vacuum ultraviolet (V-VUV) at atmospheric pressure

A difference in interfacial structure derived from a difference in binding mechanisms, was assessed to obtain a robust Cu/In interface with low-temperature fluxless solder bonding. As examples of typical bonding methods, Ar fast atom beam (Ar-FAB) surface activation in high vacuum and vapor-assisted...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Y.S. Chiu, C.R. Kao, A. Shigetou
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: Elsevier 2020-10-01
Loạt:Materials & Design
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0264127520306006
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!