Φορτώνει......

Different interfacial structures of Cu/In obtained by surface activated bonding (SAB) in vacuum and vapor-assisted vacuum ultraviolet (V-VUV) at atmospheric pressure

A difference in interfacial structure derived from a difference in binding mechanisms, was assessed to obtain a robust Cu/In interface with low-temperature fluxless solder bonding. As examples of typical bonding methods, Ar fast atom beam (Ar-FAB) surface activation in high vacuum and vapor-assisted...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Y.S. Chiu, C.R. Kao, A. Shigetou
Μορφή: Artigo
Γλώσσα:Inglês
Έκδοση: Elsevier 2020-10-01
Σειρά:Materials & Design
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0264127520306006
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!