Record citatie
APA (7e ed.) Bronvermelding
Billah, M. M., Siddik, A. B., Kim, J. B., Zhao, L., Choi, S. Y., Yim, D. K., & Jang, J. (2019). Effect of Grain Boundary Protrusion on Electrical Performance of Low Temperature Polycrystalline Silicon Thin Film Transistors. IEEE.
Met succes gekopieerd naar Clipboard
Kopiëren naar Clipboard is mislukt
Chicago (17e ed.) Bronvermelding
Billah, Mohammad Masum, Abu Bakar Siddik, Jung Bae Kim, Lai Zhao, Soo Young Choi, Dong Kil Yim, en Jin Jang. Effect of Grain Boundary Protrusion on Electrical Performance of Low Temperature Polycrystalline Silicon Thin Film Transistors. IEEE, 2019.
Met succes gekopieerd naar Clipboard
Kopiëren naar Clipboard is mislukt
MLA (9e ed.) Bronvermelding
Billah, Mohammad Masum, et al. Effect of Grain Boundary Protrusion on Electrical Performance of Low Temperature Polycrystalline Silicon Thin Film Transistors. IEEE, 2019.
Met succes gekopieerd naar Clipboard
Kopiëren naar Clipboard is mislukt
Let op: Deze citaties zijn niet altijd 100% accuraat.