Pular para o conteúdo
כניסה לחשבון מוסדי
שפה
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Māori
தமிழ்
כל השדות
מחבר
כותר
כותרת כתב-העת
נושא
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
Effect of Source Field Plate C...
שליחת רשומה
שליחת רשומה:
Effect of Source Field Plate Cracks on the Electrical Performance of AlGaN/GaN HEMT Devices
אל:
הודעה:
