Dokumentuaren aipamena
APA (7th ed.) Zitazioa
Basol, B. M., & Joshi, A. (2024). Differential Hall Effect Metrology for Electrical Characterization of Advanced Semiconductor Layers. MDPI AG.
Ondo kopiatu da
Kopiatzeak huts egin du
Chicago Style (17th ed.) Zitazioa
Basol, Bulent M., eta Abhijeet Joshi. Differential Hall Effect Metrology for Electrical Characterization of Advanced Semiconductor Layers. MDPI AG, 2024.
Ondo kopiatu da
Kopiatzeak huts egin du
MLA (9th ed.) Zitazioa
Basol, Bulent M., eta Abhijeet Joshi. Differential Hall Effect Metrology for Electrical Characterization of Advanced Semiconductor Layers. MDPI AG, 2024.
Ondo kopiatu da
Kopiatzeak huts egin du
Kontuz: berrikusi erreferentzia hauek erabili aurretik.