Citace záznamu
Citace podle APA (7th ed.)
Lee, S. H. (2025). U.S. Patent Eligibility Examination Guideline and Practical Issues: Focusing on AI-Related Inventions. Korea Institute of Intellectual Property.
Kopírování bylo úspěšné
Kopírování se nezdařilo
Citace podle Chicago (17th ed.)
Lee, Sang Ho. U.S. Patent Eligibility Examination Guideline and Practical Issues: Focusing on AI-Related Inventions. Korea Institute of Intellectual Property, 2025.
Kopírování bylo úspěšné
Kopírování se nezdařilo
Citace podle MLA (9th ed.)
Lee, Sang Ho. U.S. Patent Eligibility Examination Guideline and Practical Issues: Focusing on AI-Related Inventions. Korea Institute of Intellectual Property, 2025.
Kopírování bylo úspěšné
Kopírování se nezdařilo
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..