Hänvisningar gällande denna post
APA-referens (7:e uppl.)
Chen, C., Chen, X., Shi, Y., Gu, H., Jiang, H., & Liu, S. (2018). Metrology of Nanostructures by Tomographic Mueller-Matrix Scatterometry. MDPI AG.
Kopierad till urklipp
Kopiering till urklipp misslyckades
Chicago-referens (17:e uppl.)
Chen, Chao, Xiuguo Chen, Yating Shi, Honggang Gu, Hao Jiang, och Shiyuan Liu. Metrology of Nanostructures by Tomographic Mueller-Matrix Scatterometry. MDPI AG, 2018.
Kopierad till urklipp
Kopiering till urklipp misslyckades
MLA-referens (9:e uppl.)
Chen, Chao, et al. Metrology of Nanostructures by Tomographic Mueller-Matrix Scatterometry. MDPI AG, 2018.
Kopierad till urklipp
Kopiering till urklipp misslyckades
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.