Chapter Low Temperature Characterization and Modeling of FDSOI Transistors for Cryo CMOS Applications

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Detalles Bibliográficos
Main Authors: Cassé, Mikaël, Ghibaudo, Gérard
Formato: Livro
Idioma:Inglês
Publicado: InTechOpen 2022
Assuntos:
Engineering thermodynamics
Acceso en liña:https://directory.doabooks.org/handle/20.500.12854/138337
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