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Chapter Low Temperature Characterization and Modeling of FDSOI Transistors for Cryo CMOS Applications

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Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Cassé, Mikaël, Ghibaudo, Gérard
Format: Livro
Sprache:Inglês
Veröffentlicht: InTechOpen 2022
Schlagworte:
Online Zugang:https://directory.doabooks.org/handle/20.500.12854/138337
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