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Estruturas APS resistentes à radiação para aplicações espaciais /
[PT]O ambiente espacial pode causar falhas de operação ou até mesmo danificar circuitos eletrônicos não protegidos contra os efeitos das radiações ionizantes. O efeito degradante que a radiação ionizante tem sobre circuitos integrados CMOS requer o uso de tecnologias de fabricação especialmente dese...
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主要な著者: | , , |
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フォーマット: | Livro |
言語: | Português |
出版事項: |
UFRJ,
2006.
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主題: | |
オンライン・アクセス: | https://minerva.ufrj.br/F/?func=direct&doc_number=000660170&local_base=UFR01 |
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