Resultados da busca - Springholz G.

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    In situ Control of Si/Ge Growth on Stripe-Patterned Substrates Using Reflection High-Energy Electron Diffraction and Scanning Tunneling Microscopy por Sanduijav B, Matei DG, Springholz G

    Publicado em 2010-01-01
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    Time and momentum resolved resonant magnetic x-ray diffraction on EuTe por Föhlisch A., Holldack K., Springholz G., Kachel T., Weschke E., Schierle E., Trabant C., Pontius N., Schüßler-Langeheine C.

    Publicado em 2013-03-01
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