Risultati della ricerca - Ridham Sachdeva

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    Reliability Improvement from La2O3 Interfaces in Hf0.5Zr0.5O2‐Based Ferroelectric Capacitors di Furqan Mehmood, Ruben Alcala, Pramoda Vishnumurthy, Bohan Xu, Ridham Sachdeva, Thomas Mikolajick, Uwe Schroeder

    Pubblicazione 2023-03-01
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