Resultados da pesquisa - Cheng-Lin Du

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    Effect of Source Field Plate Cracks on the Electrical Performance of AlGaN/GaN HEMT Devices Por Ye-Nan Bie, Cheng-Lin Du, Xiao-Long Cai, Ran Ye, Hai-Jun Liu, Yu Zhang, Xiang-Yang Duan, Jie-Jie Zhu

    Publicado em 2022-08-01
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