Αποτελέσματα αναζήτησης - Benoit Bakeroot

  • Εμφανίζονται 1 - 3 Αποτελέσματα από 3
Περιορισμός αποτελεσμάτων
Λίστα   Πλέγμα  
  1. 1

    Estudio de Confiabilidad en Diodos Basados en AlGaN/GaN Durante el Estado de Encendido από Eliana Acurio, Lionel Trojman, Brice De-Jaeger, Benoit Bakeroot

    Εκδόθηκε σε Revista Politécnica (2022)
    Λήψη πλήρους κειμένου
    Λήψη πλήρους κειμένου
    Λήψη πλήρους κειμένου
    Λήψη πλήρους κειμένου
    Λήψη πλήρους κειμένου
    Artigo
    Προσθήκη στα αγαπημένα
    Αποθηκεύτηκε σε:
  2. 2

    Understanding the Leakage Mechanisms and Breakdown Limits of Vertical GaN-on-Si p<sup>+</sup>n<sup>−</sup>n Diodes: The Road to Reliable Vertical MOSFETs από Kalparupa Mukherjee, Carlo De Santi, Matteo Buffolo, Matteo Borga, Shuzhen You, Karen Geens, Benoit Bakeroot, Stefaan Decoutere, Andrea Gerosa, Gaudenzio Meneghesso, Enrico Zanoni, Matteo Meneghini

    Έκδοση 2021-04-01
    Λήψη πλήρους κειμένου
    Artigo
    Προσθήκη στα αγαπημένα
    Αποθηκεύτηκε σε:
  3. 3

    Development and analysis of thick GaN drift layers on 200 mm CTE-matched substrate for vertical device processing από Walter Gonçalez Filho, Matteo Borga, Karen Geens, Deepthi Cingu, Urmimala Chatterjee, Sourish Banerjee, Anurag Vohra, Han Han, Albert Minj, Herwig Hahn, Matthias Marx, Dirk Fahle, Benoit Bakeroot, Stefaan Decoutere

    Έκδοση 2023-09-01
    Λήψη πλήρους κειμένου
    Artigo
    Προσθήκη στα αγαπημένα
    Αποθηκεύτηκε σε:

Εργαλεία αναζήτησης: