Risultati della ricerca - Ali Mostaed

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    Electron counting detectors in scanning transmission electron microscopy via hardware signal processing di Jonathan J. P. Peters, Tiarnan Mullarkey, Emma Hedley, Karin H. Müller, Alexandra Porter, Ali Mostaed, Lewys Jones

    Pubblicazione 2023-08-01
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  2. 2

    Electron fourier ptychography for phase reconstruction di Jingjing Zhao, Chen Huang, Ali Mostaed, Amirafshar Moshtaghpour, James M. Parkhurst, Ivan Lobato, Marcus Gallagher-Jones, Judy S. Kim, Mark Boyce, David Stuart, Elena A. Andreeva, Jacques-Philippe Colletier, Angus I. Kirkland

    Pubblicazione 2025-10-01
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